Prêmio Excelência em Metrologia
O reconhecimento formal da competência em Metrologia

O Prêmio Excelência em Metrologia, anualmente conferido, destina-se a reconhecer o mérito de empresas, indivíduos e trabalhos de natureza técnico-científica que efetivamente contribuem para o desenvolvimento, a competência e a divulgação da metrologia brasileira.

Instituído em 2001 como resultado de parceria entre a Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM) e a Epse Editora, o prêmio é outorgado em três categorias: (i) Personalidade do Ano; (ii) Metrologista-Padrão e (iii) Contribuição Técnico-Científica.

O processo de seleção inclui ampla consulta à comunidade brasileira de metrologia por intermédio da revista Metrologia & Instrumentação, de expressiva capilaridade nos meios produtivo, científico e tecnológico.

O processo seletivo e decisório é atribuição do Comitê Nacional do Prêmio Excelência em Metrologia, formado por ilustres personalidades brasileiras do mundo empresarial e acadêmico.

Prestando-lhes essa homenagem, a Sociedade Brasileira de Metrologia sente-se honrada em exibir o presente painel explicitando, ao longo dos anos, os vencedores laureados com o Prêmio Excelência em Metrologia, atribuindo-lhes o justo reconhecimento.

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