Palestrantes Convidados
Em conformidade com o programa preliminar,
apresentado na figura acima, o congresso irá contar com oito palestras
plenárias, duas na manhã do primeiro dia de evento, logo após a cerimônia de
abertura, e mais duas nas manhãs dos demais dias, sempre abrindo as sessões
técnicas. Todos os palestrantes convidados possuem uma vasta experiência
internacional e são pesquisadores de renome na área de metrologia. Alguns dos
palestrantes convidados são:
1 – Dr. Klaus von
Klitzing
Premio
Nobel de Física de 1985 e autor do trabalho que possibilitou criar um padrão
de resistência elétrica com base no Efeito Hall Quântico. Atualmente pode ser
considerado o principal nome da metrologia mundial.
2
– Dr. Yi-hua Tang
National
Institute of Standards and Technology (NIST/EUA) – Divisão de Metrologia
Quântica do NIST - Gerente de desenvolvimento do sistema Josephson e chefe do
Laboratório de Tensão do NIST. Uma das maiores autoridades mundiais em
metrologia quântica, particularmente do desenvolvimento de Padrões de Tensão
com base no Efeito Josephson e com uma vasta quantidade de trabalhos
publicados em todas as áreas de metrologia elétrica.
3 – Prof. Mario Savino
Mario Savino nasceu em Bari, Itália, em
1947, e recebeu o título de mestre em Engenharia Electrotécnica pela
Universidade de Bari. Desde 1971 ele vem trabalhando no Instituto de
Eletrotécnica (atualmente Departamento Elétrica e Eletrônica do Instituto
Politécnico de Bari), até 1973 como pesquisador; de 1973 a 1982 como Professor
Assistente; de 1982 a 1985 como professor associado; e a partir de 1985 como
Professor Titular. Ele tem um considerável nível (nacional e internacional) de
experiência em gestão e coordenação dos conselhos acadêmicos e científicos.
Isso permitiu que ele fosse presidente da IMEKO TC-4 "Medição de grandezas
elétricas", do qual atualmente é presidente honorário. Seu trabalho científico
está voltado ao teste e controle de qualidade dos dispositivos digitais, com
mais de 150 artigos publicados em revistas especializadas e anais de
congressos.
4 –
Dr. Hans Peter H. Grieneisen
Possui graduação em Fisica pela Universidade
Federal do Rio Grande do Sul (1964) e doutorado em Física - Massachusetts
Institute of Technology (1972). Atualmente, desde 06/2008, é servidor público
do Inmetro, ocupando o cargo de Especialista em Metrologia e Qualidade Sênior,
na Divisão de Metrologia Óptica do Instituto Nacional de Metrologia,
Normalização e Qualidade Industrial, Inmetro/Dimci/Diopt, nas áreas de
Fotometria, Radiometria e Colorimetria. É membro em vários Grupos Técnicos de
conservação de energia elétrica em iluminação no âmbito do Programa Brasileiro
de Etiquetagem, PBE, sob coordenação do Inmetro/Eletrobrás. Possui ampla
experiência anterior na área de Física de Laser como: Pesquisador, Lider de
Grupo de Pesquisa e Professor Titular do Instituto de Física da UFRGS , nas
áreas de Física Molecular, Descargas Elétricas em Gases, Espectroscopia Laser,
Filmes Finos Ópticos e aplicações e desenvolvimento tecnológico do Laser. http://lattes.cnpq.br/1389073418174657.
5 – Dr. Carlos Alberto
Achete
Possui doutorado em Engenharia Metalúrgica e de
Materiais pela Universidade Federal do Rio de Janeiro (1987). Professor
titular do Instituto Alberto Luiz Coimbra de Pós Graduação e Pesquisa de
Engenharia. Atualmente encontra-se cedido ao Inmetro onde ocupa o cargo de
Coordenador de Laboratórios e Infraestrutura e Coordena a Divisão de
Metrologia de Materiais, mas ainda mantém suas atividades de orientação e
ensino na UFRJ. Tem experiência na área de Física, com ênfase em Estrutura de
Líquidos e Sólidos e Cristalografia.
Download do Programa do IMEKO TC4 e IX Semetro.
Download do Programa do IV Congresso Brasileiro de Metrologia.
Download Programa do II CIMMEC.
English Version
Programa
